Вход
Регистрация
Инитпро | тендеры
Документы:
№ | Участник | Результат | Мин. цена |
---|---|---|---|
1 | имя неизвестно |
Победитель
|
Контракт: | |
Поставщик: |
Наименование товара, работы, услуги | Кол-во | Цена за ед. | Стоимость |
---|---|---|---|
Аналитический комплекс на базе растрового электронного микроскопа
(Комплекс состоит из следующего оборудования:
- Настольный Сканирующий Электронный микроскоп JCM-7000, JEOL Ltd. – 1 шт.;
- Моторизированная система микроманипуляторов Axis APSS, Micro Support Co., Ltd – 1 шт.;
- Антивибрационная платформа DVIA-T56, размер 500х600х93 мм, нагрузка до 150 кг, DAEIL SYSTEMS – 1 шт.;
- Антивибрационная платформа DVIA-Т67, размер 600х700х95 мм, нагрузка до 150 кг, DAEIL SYSTEMS – 1 шт.)
ОКДП 26.51.61.110
|
1 |